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CTIMES / 太克科技
科技
典故
什么是Hypertext(超文件)?Hypertext的发展简史

所谓超文本 (hypertext)就是将各类型的信息分解成有意义的信息区块,储存在不同的节点 (node),成为一种与传统印刷媒体截然不同的叙事风格。1965年,Ted Nelson首创Hypertext一词,Andy van Dam et al则在1967年建立了Hypertext的编辑系统。
Tektronix推出适用於即时示波器的PAM4光学分析解决方案 (2017.09.19)
Tektronix(太克科技)推出全新的DPO7OE1,这是一种可与即时示波器搭配使用的校准光学探棒和分析软体,是相容於 28-GBaud PAM4 应用的光学叁考接收器 (ORR),并可支援IEEE/OIF-CEI标准特定量测
Tektronix协助内容创作者解决拍摄不同内容关键挑战 (2017.09.08)
4K、宽色域 (WCG) 和高动态范围 (HDR) 等全新技术可让影片内容创作者建立令人惊叹的影像和内容,并将其传送至住家,但这也增加了工作流程的复杂性。Tektronix (太克科技)公布了一套全方位的生产工具,协助内容创作者在源头 (摄影机) 将其复杂度降至最低并进行管理
太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义 (2017.06.09)
太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义 太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义... 随着从智慧型手表到混合动力车辆所使用的嵌入式系统日趋复杂,开发这些系统的工程师对于模拟测试和量测解决方案 - 示波器而言也有更多的需求
Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试 (2017.05.26)
Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试 Tektronix 最近发布了针对第 1 代和第 2 代的自动化 USB 3.1 Type-C 测试解决方案,整合了 SigTest 和 DPOJET 量测,并提供完整的相容性测试和更深入的分析
Tektronix 提出隔离量测标准 (2017.05.24)
Tektronix 提出隔离量测标准 Tektronix 提出隔离量测标准 IsoVu 量测系统在 APEC 2016 展会上首次亮相时即获得广泛的好评。 Panasonic Semiconductor Solutions 的Daijiro Arisawa表示:「市场上显然需要一种新的探棒技术,使我们能够对高端电压进行直接量测
选择对的示波器 让测试事半功倍吧 (2017.05.22)
正确考虑各种因素
Tektronix推出TTR500系列USB VNA抢攻向量网路分析仪市场 (2017.05.18)
Tektronix推出TTR500系列USB VNA抢攻向量网路分析仪市场 全球测试、量测和监测仪器供应商Tektronix(太克科技)推出TTR500 系列 USB 向量网路分析仪,加入日益壮大的Tektronix USB 型式的射频测试仪器产品组合
Tektronix全新任意波形产生器满足雷达/EW设计之严苛讯号产生需求 (2017.04.19)
全球测试、量测和监测仪器供应商Tektronix(太克科技)推出全新的任意波形产生器(AWG),提供高讯号完整性和可扩展性,满足先进研究、电子测试、雷达和电子战(EW ) 系统设计及测试中的严苛讯号产生需求
Tektronix推出高灵敏度、低杂讯的新款光学模组 (2017.03.29)
Tektronix(太克科技)为其DSA8300取样示波器推出全新的光学模组。此模组具有高的遮蔽测试灵敏度和最低的杂讯,并配备了全新功能,可提升生产能力并改善当前100G设计投入生产的产量
Tektronix为树莓派提供量测解决方案 (2017.03.24)
全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)宣布,将利用最新的Tektronix高速测试解决方案,为低成本、高效能电脑设计者「树莓派」(Raspberry Pi) 的研发(R&D) 实验室提供全面的支援服务
Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展,以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术,OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix任命Tami Newcombe为商业总裁 (2017.03.15)
全球量测解决方案供应商---Tektronix(太克科技)宣布将任命 Tami Newcombe为商业总裁,并负责领导全球销售和市场行销业务。 Newcombe 女士曾任思科(Cisco) 执行长,具有25年技术产业经验
应对全方位测试满足影音市场多元商机 (2017.02.13)
随着多媒体影音娱乐的高画质风潮方兴未艾,传输介面也已经全面革新,数位资料正迈入超高速传输时代。而测试厂商,也全力为这些高速数位传输介面的品质把关。
台大暨交大共同打造400GBit/s资料中心用高速单模面射型雷射 (2016.12.23)
目前在光通讯业界最新技术发展蓝图中,少模态与单模态高速垂直共振腔面射型雷射(VCSEL)元件已被纳入乙太网路的正式规范(IEEE 802.3 bs),是未来短距传输(数据中心、超级电脑)的主要光源
Tektronix针对ONFI快闪记忆体标准推出测试解决方案 (2016.11.28)
Tektronix(太克科技)推出针对开放式NAND快闪介面(ONFI)标准的测试解决方案。 ONFI 4.0测试解决方案可用于Tektronix高效示波器,包括可分析ONFI汇流排上DDR2/3模式的软体,以及介面板为基础的有效探测解决方案
全新Tektronix DisplayPort Type-C发射器解决方案可有效缩减相容性测试时间 (2016.11.23)
全球量测解决方案供应商--Tektronix(太克科技)日前推出全新的DisplayPort Type-C 发射器测试解决方案,与先前的Tektronix DisplayPort解决方案和其他竞争对手的解决方案相较,显著降低了相容性测试时间
Tektronix全新100G链结沟通工具适用于除错资料中心技术 (2016.11.04)
Tektronix(太克科技)发布了可与其超高效能示波器DPO70000SX系列搭配使用的全新100G链结沟通工具(Link Training Tool)。这项新选配加上扩展的100G电气除错与验证量测支援,解决了日益成长的资料中心市场的关键需求
Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix(太克科技)推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料(包括碳化矽(SiC) 和氮化镓(GaN)) 搭配使用而进行最佳化处理,可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试
量测和模拟PAM-4关联性 (2016.11.01)
如何使用相同的分析方法,打造出高效和准确的模拟和量测工作流程。缩减设计和验证阶段之间的差距,能够进而推动在市场中进行更快速的产品部署行动。
Tektronix为混合域示波器提供CAN FD支援功能 (2016.10.27)
Tektronix(太克科技)宣布为其MDO3000和MDO4000C系列混合域示波器推出完整的CAN FD 通讯协定触发、解码和搜寻解决方案,协助汽车工程师满足消费者对于更强大和更复杂电子模组和整合系统的需求

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