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CTIMES / Tektronix
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电子工业改革与创新者 - IEEE

IEEE的创立,是在于主导电子学的地位、促进电子学的创新,与提供会员实质上的协助。
Tektronix推出适用於即时示波器的PAM4光学分析解决方案 (2017.09.19)
Tektronix(太克科技)推出全新的DPO7OE1,这是一种可与即时示波器搭配使用的校准光学探棒和分析软体,是相容於 28-GBaud PAM4 应用的光学叁考接收器 (ORR),并可支援IEEE/OIF-CEI标准特定量测
Tektronix协助内容创作者解决拍摄不同内容关键挑战 (2017.09.08)
4K、宽色域 (WCG) 和高动态范围 (HDR) 等全新技术可让影片内容创作者建立令人惊叹的影像和内容,并将其传送至住家,但这也增加了工作流程的复杂性。Tektronix (太克科技)公布了一套全方位的生产工具,协助内容创作者在源头 (摄影机) 将其复杂度降至最低并进行管理
新一代通讯挑战 网路分析仪轻松解决 (2017.08.30)
网路分析仪可以用来协助开发许多现代的通讯技术。不仅可减少电缆、转接器和其他测试设备的影响,还能用於测试组件规格并验证设计模拟。
太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义 (2017.06.09)
太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义 太克全新 5 系列MSO 赋予示波器全新定义... 随着从智慧型手表到混合动力车辆所使用的嵌入式系统日趋复杂,开发这些系统的工程师对于模拟测试和量测解决方案 - 示波器而言也有更多的需求
Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试 (2017.05.26)
Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试Tektronix 为 DisplayPort 1.4、Type-C 和新 HBR3提供快速资料传输相容性测试 Tektronix 最近发布了针对第 1 代和第 2 代的自动化 USB 3.1 Type-C 测试解决方案,整合了 SigTest 和 DPOJET 量测,并提供完整的相容性测试和更深入的分析
Tektronix 提出隔离量测标准 (2017.05.24)
Tektronix 提出隔离量测标准 Tektronix 提出隔离量测标准 IsoVu 量测系统在 APEC 2016 展会上首次亮相时即获得广泛的好评。 Panasonic Semiconductor Solutions 的Daijiro Arisawa表示:「市场上显然需要一种新的探棒技术,使我们能够对高端电压进行直接量测
Tektronix推出TTR500系列USB VNA抢攻向量网路分析仪市场 (2017.05.18)
Tektronix推出TTR500系列USB VNA抢攻向量网路分析仪市场 全球测试、量测和监测仪器供应商Tektronix(太克科技)推出TTR500 系列 USB 向量网路分析仪,加入日益壮大的Tektronix USB 型式的射频测试仪器产品组合
Tektronix全新任意波形产生器满足雷达/EW设计之严苛讯号产生需求 (2017.04.19)
全球测试、量测和监测仪器供应商Tektronix(太克科技)推出全新的任意波形产生器(AWG),提供高讯号完整性和可扩展性,满足先进研究、电子测试、雷达和电子战(EW ) 系统设计及测试中的严苛讯号产生需求
Tektronix推出高灵敏度、低杂讯的新款光学模组 (2017.03.29)
Tektronix(太克科技)为其DSA8300取样示波器推出全新的光学模组。此模组具有高的遮蔽测试灵敏度和最低的杂讯,并配备了全新功能,可提升生产能力并改善当前100G设计投入生产的产量
Tektronix为树莓派提供量测解决方案 (2017.03.24)
全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)宣布,将利用最新的Tektronix高速测试解决方案,为低成本、高效能电脑设计者「树莓派」(Raspberry Pi) 的研发(R&D) 实验室提供全面的支援服务
Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展,以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术,OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix任命Tami Newcombe为商业总裁 (2017.03.15)
全球量测解决方案供应商---Tektronix(太克科技)宣布将任命 Tami Newcombe为商业总裁,并负责领导全球销售和市场行销业务。 Newcombe 女士曾任思科(Cisco) 执行长,具有25年技术产业经验
台大暨交大共同打造400GBit/s资料中心用高速单模面射型雷射 (2016.12.23)
目前在光通讯业界最新技术发展蓝图中,少模态与单模态高速垂直共振腔面射型雷射(VCSEL)元件已被纳入乙太网路的正式规范(IEEE 802.3 bs),是未来短距传输(数据中心、超级电脑)的主要光源
Tektronix 推出适用于体积、表面电阻率量测的完整解决方案 (2016.12.13)
全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)推出一个完整的解决方案,可用于执行符合公认业界标准的高电阻率量测,包括ASTM D257和IEC 60093。新机型KICKSTARTFL-HRMA应用程式是专为与Keithley机型6517B静电计和机型8009电组率测试盒搭配使用所设计,可自动进行体积和表面电阻率量测,获得更准确和可重复的结果,无需自订的程式设计
RS Components扩充 Electronics Workbench 网页内容 (2016.12.12)
为了让电子产品设计师与测试工程师能够将能力发挥到极致,Electrocomponents plc旗下的贸易品牌RS Components(RS)已更新其Electronics Workbench 网页,提供为电子设计工程师而设的最新创新产品以及支援服务的资讯
Tektronix针对ONFI快闪记忆体标准推出测试解决方案 (2016.11.28)
Tektronix(太克科技)推出针对开放式NAND快闪介面(ONFI)标准的测试解决方案。 ONFI 4.0测试解决方案可用于Tektronix高效示波器,包括可分析ONFI汇流排上DDR2/3模式的软体,以及介面板为基础的有效探测解决方案
全新Tektronix DisplayPort Type-C发射器解决方案可有效缩减相容性测试时间 (2016.11.23)
全球量测解决方案供应商--Tektronix(太克科技)日前推出全新的DisplayPort Type-C 发射器测试解决方案,与先前的Tektronix DisplayPort解决方案和其他竞争对手的解决方案相较,显著降低了相容性测试时间
Tektronix全新100G链结沟通工具适用于除错资料中心技术 (2016.11.04)
Tektronix(太克科技)发布了可与其超高效能示波器DPO70000SX系列搭配使用的全新100G链结沟通工具(Link Training Tool)。这项新选配加上扩展的100G电气除错与验证量测支援,解决了日益成长的资料中心市场的关键需求
Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix(太克科技)推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料(包括碳化矽(SiC) 和氮化镓(GaN)) 搭配使用而进行最佳化处理,可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试
量测和模拟PAM-4关联性 (2016.11.01)
如何使用相同的分析方法,打造出高效和准确的模拟和量测工作流程。缩减设计和验证阶段之间的差距,能够进而推动在市场中进行更快速的产品部署行动。

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1 台大暨交大共同打造400GBit/s资料中心用高速单模面射型雷射
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6 Tektronix Sentry ABR在钻石卓越科技大赏成绩亮眼
7 Tektronix任命Tami Newcombe为商业总裁
8 Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术
9 Tektronix 提出隔离量测标准

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