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Tektronix推出適用於即時示波器的PAM4光學分析解決方案
 

【CTIMES 陳復霞整理報導】   2017年09月19日 星期二

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Tektronix(太克科技)推出全新的DPO7OE1,這是一種可與即時示波器搭配使用的校準光學探棒和分析軟體,是相容於 28-GBaud PAM4 應用的光學參考接收器 (ORR),並可支援IEEE/OIF-CEI標準特定量測。全新的解決方案補足了Tektronix的取樣示波器光學PAM4分析工具功能,為設計團隊提供了有效的測試解決方案,適用於光發射器工作流程的所有階段。

工程師可利用以即時示波器為基礎的解決方案進行 PAM4 光學裝置的重要除錯離線分析,可有效簡化驗證挑戰。
工程師可利用以即時示波器為基礎的解決方案進行 PAM4 光學裝置的重要除錯離線分析,可有效簡化驗證挑戰。

這款新產品以即時示波器(如PO70000SX)為基礎,使研發和系統工程師可增加強大的除錯功能,更輕鬆地對其光學裝置進行疑難排解:PAM4和NRZ的軟體時脈還原、觸發、錯誤偵測,以及擷取時間相關或連續的訊號記錄。

Maxim Integrated高級研發總監Jan Filip表示:「像PAM4這樣的先進光學調變格式同時需具備取樣和即時示波器來進行系統測試。以即時示波器為基礎的全新解決方案使我們能為開發團隊提供關鍵的除錯回饋,並可使用離線Matlab演算法模擬先進的光學接收器系統。Tektronix為我們的光學和PAM4測試要求提供了效能最佳的即時示波器偵測解決方案,是我們先進量測平台的策略合作夥伴。」

Maxim Integrated是一間提供適用於資料中心應用的高速、低功耗光學裝置的製造商,對於以即時示波器為基礎的光學PAM4解決方案的價值有著深刻的體驗。

應用與分析套件

DPO7OE1 為 28-GBaud PAM4 除錯應用提供 33 GHz 光學頻寬,同時亦可用於舊型 NRZ 應用。分析套件支援包括 ER、AOP、OMA、眼圖高度和眼圖寬度等標準光學量測,以及包括 TDECQ 在內的 PAM4 IEEE 和 OIF-CEI 標準特定量測。

DPO7OE1 校準光學探棒和 PAM4 分析套件現在已可訂購。

關鍵字: 光學探棒  分析軟體  即時示波器  Tektronix(太克太克科技  測試系統與研發工具  光通訊儀器 
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