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愛德萬T2000測試平台推新通用型模組 擴充數位與電源供應功能
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2020年12月14日 星期一

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半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)日前發表兩款最新通用型硬體設備500MDM數位模組與DPS32A電源供應模組,擴充旗下T2000測試平台功能,涵蓋諸如系統單晶片 (SoC)元件、電源管理IC、車用元件和CMOS影像感測器等應用,以因應日益成長的數位轉型市場。兩款新硬體皆相容於現有測試系統,如T2000 AiR平台輕巧的設計能因應各類環境限制,從工程實驗室到量產製造現場都適用。

愛德萬T2000測試平台最新數位模組與電源供應模組進一步擴充測試功能、提升成本效益

現今行動電子市場快速成長,大量製造的半導體元件皆強調低功率運行,以延長電池續航力。為了測試這些IC元件,不僅需要小電流和迅捷的處理速度,還要能進行高精度的參數量測,以及具備高精度的輸出電壓源和夠深的掃描圖樣記憶體(Scan pattern memory)。

為了在T2000測試平台滿足上述需求,愛德萬測試推出最新128通道氣冷式500MDM數位模組,能處理資料傳輸速率達500Mbps的元件,除了超大32-Gbit掃描圖樣記憶體外,更為所有32 I/O通道設計專用的高效能參數量測單元,將T2000系統的電流容量進一步擴充至每I/O通道60豪安(mA)。

藉由最新的32mA DPS32A元件的電源供應,都能因應任何類型的消費性電子元件。升級後的系統具有32個通道,提供4伏特電壓/1安培電流,其高解析度參數量測與持續採樣功能,能支援Delta-IDDQ量測與IDD頻譜量測等最新測試方法。此外,與前代DPS500mA電源供應模組相比,新系統具備量測超低待機電流的能力。

T2000 AiR氣冷式測試平台,特別針對研發與量產測試成本效益的提升進行優化設計,與市面上其他氣冷式測試機相較,能提供最快的作業速度和最大的掃描圖樣記憶體。其模組化結構能發揮最大彈性,最新500MDM和DPS32A都能裝載進來。再者,由於T2000 AiR不需要連接外部循環冷卻水,因此哪裡都可以安裝。除此之外,T2000 AiR的軟體亦能與擴充性絕佳的T2000系列產品完全相容。

愛德萬測試T2000事業單位副總Toshiaki Adachi表示:「我們兩款最新硬體單元進一步拓展了T2000測試平台功能,滿足投入穿戴式電子等物聯網 (IoT) 產品相關研發生產之IDM廠、晶圓廠和半導體IC設計公司的測試需求。新設備的模組化設計與相容性,不僅能協助客戶節省資本支出,亦符合愛德萬測試的產品組合策略。」

500MDM數位模組與DPS32A電源供應模組皆已開始向客戶出貨。

關鍵字: 愛德萬測試 
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