帳號:
密碼:
 
CTIMES / 產品 /   
Tektronix推出高靈敏度、低雜訊的新款光學模組
 

【CTIMES 陳復霞整理報導】   2017年03月29日 星期三

瀏覽人次:【6284】
  

Tektronix(太克科技)為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊,並配備了全新功能,可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。Tektronix同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能,包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ) PAM4,以及針對光學測試的相關支援量測。

DSA83000取樣示波器的新模組提升了100G設計的產量;Tektronix同時也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量測功能。
DSA83000取樣示波器的新模組提升了100G設計的產量;Tektronix同時也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量測功能。

在2017年3月23日在加州洛杉磯所舉行的OFC 光學網路和通訊研討會和展覽上,太克科技展示全新的模組和功能,以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示:「隨著100G設計投入生產,製造產量就變得至關重要。我們最低的固有雜訊可讓使用者對測試結果更有信心,從而提升光學組件和互連設備的製造產量。在此同時,我們也利用全方位的工具和功能,在新一代資料傳輸中提供深入的分析和有效的除錯功能,持續引領400G的發展趨勢。」

當安裝在DSA8300取樣示波器中時,全新的80C17和80C18光學模組可提供 -14 dBm的遮蔽測試靈敏度,超過28 GBd PAM4標準的要求,同時提供3.9 μW雜訊效能,並具有廣泛的波長支援。雙通道80C18可讓光學製造測試工程師能加倍提升傳輸量和容量。若裝置故障,Tektronix還能提供分析工具來分解雜訊和抖動的訊號內容,以協助工程師瞭解潛在的問題。

80C17和80C18光學模組和400G測試軟體增強功能將於2017年4月底開始提供。

關鍵字: 光學模組  Tektronix(太克太克科技  光通訊儀器  測試系統與研發工具 
相關產品
Tektronix EMCVu提升EMI/EMC相容性測試的速度
Tektronix 為嵌入式系統、航太、汽車工程提供解決方案
新 5 系列精巧型MSO 提高機器診斷、高能物理測試標準
Tektronix推出適用於即時示波器的PAM4光學分析解決方案
Tektronix協助內容創作者解決拍攝不同內容關鍵挑戰
相關討論
  相關新品
EM500EV-G
原廠/品牌:集博
供應商:集博
產品類別:IDE
Platform Manager Devices
原廠/品牌:Lattice
供應商:Lattice
產品類別:Power
Power Manager II Hercules Development Kit
原廠/品牌:Lattice
供應商:Lattice
產品類別:Power
  相關新聞
» 新一代電視決勝8K新戰場
» NI將半導體測試系統的PXI SMU通道密度提升6倍
» Rohde & Schwarz 發表最新經濟型系列產品
» 針對學術與研發市場應用 R&S推出多款示波器產品
» 愛德萬測試將於SEMICON Korea展示最新測試解決方案
  相關文章
» 晶神醫創首創癲癇抑制技術
» 無線充電異軍突起—紅外線無線充電
» 2018新戰局 5G加速先期研發腳步
» 優化圖像感測器平臺應對汽車挑戰性拍攝場景要求
» 台灣太陽能產業仍在等待更健康的市場

AD

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2018 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw