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Tektronix推出高靈敏度、低雜訊的新款光學模組
 

【CTIMES 陳復霞整理報導】   2017年03月29日 星期三

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Tektronix(太克科技)為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊,並配備了全新功能,可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。Tektronix同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能,包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ) PAM4,以及針對光學測試的相關支援量測。

DSA83000取樣示波器的新模組提升了100G設計的產量;Tektronix同時也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量測功能。
DSA83000取樣示波器的新模組提升了100G設計的產量;Tektronix同時也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量測功能。

在2017年3月23日在加州洛杉磯所舉行的OFC 光學網路和通訊研討會和展覽上,太克科技展示全新的模組和功能,以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示:「隨著100G設計投入生產,製造產量就變得至關重要。我們最低的固有雜訊可讓使用者對測試結果更有信心,從而提升光學組件和互連設備的製造產量。在此同時,我們也利用全方位的工具和功能,在新一代資料傳輸中提供深入的分析和有效的除錯功能,持續引領400G的發展趨勢。」

當安裝在DSA8300取樣示波器中時,全新的80C17和80C18光學模組可提供 -14 dBm的遮蔽測試靈敏度,超過28 GBd PAM4標準的要求,同時提供3.9 μW雜訊效能,並具有廣泛的波長支援。雙通道80C18可讓光學製造測試工程師能加倍提升傳輸量和容量。若裝置故障,Tektronix還能提供分析工具來分解雜訊和抖動的訊號內容,以協助工程師瞭解潛在的問題。

80C17和80C18光學模組和400G測試軟體增強功能將於2017年4月底開始提供。

關鍵字: 光學模組  Tektronix(太克太克科技  光通訊儀器  測試系統與研發工具 
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