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Tektronix展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術
 

【CTIMES 陳復霞整理 報導】   2017年03月17日 星期五

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Tektronix在OFC 2017上將展示100G、400G標準光學量測技術的最新發展,以及支援多OMA系統的光學調變分析軟體的端對端示範?

Tektronix展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術
Tektronix展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術

全球量測解決方案供應商Tektronix(太克科技)將在OFC 2017上展示為資料中心網路所開發的最新光學通訊測試技術,OFC 2017是專為全球光學通訊和網路專業人士所舉辦的研討會。本次大會將有超過600間公司參展,並舉辦1,150場技術和商業簡報,來協助 13,000多名與會者利用最新光學通訊創新技術,且滿足消費者和企業對更多頻寬及更高資料中心效能不斷成長的需求。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示:「隨著100G投入生產及400G設計工作全面展開,與矽晶和系統設計特性分析、驗證和除錯有關的測試挑戰將日益嚴峻。OFC與會者將能親眼目睹Tektronix正協助廣大的客戶不斷挑戰更高資料速率、新興標準及尖端科技研發的極限,同時利用我們的高效能解決方案有效縮短產品上市的週期。」

資料中心網路技術提供商希望能不斷提升高速資料傳輸的容量和精確度。Tektronix提供了一套可分析電氣和光學效能特性的完善高效能解決方案,並將在OFC (展位 2339 號) 進行展示,內容包括:

‧ DSA8300 取樣示波器:搭配 80GHz 光學取樣模組,可支援針對 TDECQ 以 IEEE 802.3bs為基礎的 400G 光學測試,包括適用於 NRZ 和 PAM-4 (高達28GBd) 的高靈敏度單一模式/多模式光學量測。

‧ DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器:可利用適用於 400G 標準的即時觸發和後等化錯誤偵測功能,分析單次 PAM-4 訊號。

‧ 支援多OMA系統之光學調變分析軟體的端對端示範,包括AWG70000系列任意波形產生器及DPO70000SX示波器,適合空間分隔多工 (Spatial Division Multiplexing) 等應用。

‧ 發布多種新品,將可推動下一代光學裝置和互連裝置的製造良率明顯改善。

‧ 此外,與會者還可以在Tektronix (展位2339號)領取一張有關PAM4測試的教育海報。

「美國光纖通訊研討會及展覽會」(Optical Fiber Communication Conference and Exposition,OFC) 是專為光學通訊和網路專業人士所舉辦的全球最大型研討會和展覽會。40多年來,OFC 吸引了吸引了來自全球各地的與會者,在此進行會談、教學、溝通及推動業務發展。OFC 2017 將於 3 月19 至 23 日在美國加州洛杉磯舉辦。

如需瞭解更多資訊,請瀏覽網址:http://www.ofcconference.org

關鍵字: OFC 2017  光學測試  資料中心網路  Tektronix(太克太克科技  光通訊儀器  測試系統與研發工具 
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