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NI:邁向更開放的智慧型半導體測試
 

【CTIMES 王岫晨 報導】   2016年09月09日 星期五

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身為平台式系統供應商,NI(國家儀器)不斷致力於協助工程師與科學家,解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求,NI也藉由於2016 Semicon Taiwan的機會,祭出三大半導體測試解決方案,包括可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器,以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。

NI 於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案
NI 於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案

國家儀器技術行銷經理潘建安指出,隨著整合到RF前端模組的零組件越來越多,市場對高功率RF測試有極大的需求。NI半導體測試系統(STS)全新的RF功能在RF盲插狀態時,能夠以+38 dBm的速率傳輸,並以+40 dBm的速率接收,是目前市場上第一個商用化,且不用親自建置高功率模組的唯一解決方案。此外,STS可透過全功能軟體執行26GHz的S參數量測、FPGA架構的Real-Time封包追蹤及數位失真,滿足RF與混合訊號裝置製造商千變萬化的測試需求,還可為企業降低測試成本且無須犧牲量測的精準度與效能。

而為了讓半導體測試的產品選擇更加完整,NI亦推出PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor,將高階數位測試平台才具備的數位測試功能,引進到開放式的PXI平台中,讓工程師可妥善運用波形編輯器與除錯工具降低整體的測試成本、提升RF與類比IC的傳輸率,並讓電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC製造商,突破傳統半導體自動化測試設備的封閉架構,成為PXI上第一個具備ATE等級的數位儀器,有助於企業縮短產品的上市時程。

而在半導體的電源量測方面,NI PXIe-4135 SMU具備10 fA的高靈敏度與高達200V的電壓輸出,可測試低電流訊號並進行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與各種IC特性測試。此外,工程師還可透過模組化的PXI SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統,同時享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱,能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。

潘建安說,透過NI的三大半導體測試解決方案,半導體設備商可享有最即時的世界級測試服務,讓企業得以從儀器商定義測試內容的封閉式測試解決方案,邁向更開放的模組化測試平台,協助工程師使用更智慧化的半導體測試解決方案,助力客戶通往智慧型半導體測試的階段。

關鍵字: 模組化儀器  PXI  NI  國家儀器 
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