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R&S总裁:LTE终端认证测试不容忽视
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 报导】   2009年04月02日 星期四

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罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz,R&S)总裁兼首席营运长Mr.Christian Leicherk在西班牙巴塞隆纳2009年世界行动大会(Mobile World Congress 2009)期间,参与由中国移动(China Mobile)、沃达丰(Vodafone)与Verizon Wireless所主办的「全球LTE产业高峰会」,为量测仪器设备厂商唯一代表。

Mr.Christian Leicher就「LTE FDD和TDD(TD-LTE)终端认证及测试解决方案」发表公开演说,分享终端认证测试GSM/WCDMA在营运过程中的成功经验,并强调终端认证测试将成为LTE未来成功发展的重要依据,此外,说明身为各标准组织3GPP,LSTI,NGMN Alliance,GCF会员的R&S在LTE国际标准化中所做出的贡献与努力,最终介绍R&S LTE弹性、精准与快速的量测解决方案,以及对于LTE技术相关产品规划蓝图。

全球超过200家LTE相关供货商参与本次高峰会,并藉本次活动展现全球最大电信营运商在LTE之发展方针以及LTE FDD、TDD单芯片终端之愿景,并指出LTE产业发展关键在于上下游厂商相互合作,R&S表示,透过此次高峰会之盛况,对LTE未来发展深具信心。

關鍵字: LTE终端认证测试  LTE  羅德史瓦茲  Christian Leicher 
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