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使用OTA解决新挑战 可??提升系统层级测试效率
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 报导】   2019年09月03日 星期二

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对测试工程师而言,增加的频率、新的封装技术与数量更多的天线,意味着难以在保有高品质之际,同时避免资本设备成本(测试设备成本)与作业成本(测试每个装置的时间)攀升。新的OTA技术有助解决这些问题,但也同样带来挑战。第一项难题是量测准确度。

虽然5G技术测试的挑战看来复杂,但是全球工程师皆已着手开发新的测试仪器与OTA等新测试方式。
虽然5G技术测试的挑战看来复杂,但是全球工程师皆已着手开发新的测试仪器与OTA等新测试方式。

NI商务与科技研究员Charles Schroeder指出,不同於接线式测试,由於天线校准与准确度、治具设备容错范围与讯号反射等因素,让测试工程师在进行 OTA 量测时,需因应额外的量测不确定性。第二项难题,则是必须将新量测作业整合至装置测试计画中,以进行电波暗室整合、波束特性验证、最隹编码簿计算与天线叁数特性叁数描述作业。第三项难题是,随着RF频宽持续增加,在这些大频宽中进行校准与量测的处理需求亦随之渐增,因此测试时间延长的问题也益发令人担??。

最後一项难题是,测试管理人员必须做更多商业考量,以在确保产品品质之际,尽量不对上市时间、资本成本、作业成本与楼面空间(为了容纳OTA室) 造成影响。在接下来数年间,测试与量测业界将会使用众多创新方式迅速回应前述挑战。测试团队应考量高灵活度的软体定义测试策略与平台,藉此确保目前的资本支出能跟上如此快速的创新周期步调。虽然OTA带来了挑战,但同时也带来优点。

首先,OTA是唯一适合 AiP 技术的选择,因为天线阵列会整合至封装内,不会直接以连接线连接至阵列元件。即使测试工程师能使用传统测试方式接触个别天线元件,仍会面临困难抉择,必须决定要采用平行测试(需使用较多仪器,因此会产生资本支出)或序列测试(会产生测试时间与产能方面的作业支出)。虽然现在尚有许多技术问题需要解决,但是 OTA 测试提供了以系统而非以一组独立元件来测试阵列的方式,可??更为提升系统层级测试的效率。

Charles Schroeder说,过去测试设备供应商与测试工程师曾起身迎接挑战,在对更高效能与复杂度进行测试之际,力求将上市时间与测试成本压至最低;现在,他们也会以相同态度因应5G技术的挑战。虽然目前5G技术测试的挑战看来复杂,但是全球工程师皆已着手开发新的测试仪器与 OTA 等新测试方式;5G 技术要在商业上获致成功,这些工具与技术都不可或缺。

關鍵字: 5G 
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