账号:
密码:
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
爱德万测试:5G NR先进应用大幅推升记忆体市场需求成长
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 报导】   2020年10月22日 星期四

浏览人次:【1359】
  

在今天,5G NR与先进节点的发展,正成为长期驱动半导体产业前进的最重要力量。而5G NR的先进应用,更大幅推升了记忆体的市场需求量快速成长。随着5G技术时代来临,全球DRAM位元消耗预估将在2023年近??翻倍,而此波需求成长背後的主要推手,正是持续成长的资料处理和行动通讯市场,不仅资料中心要求更多记忆体,智慧型手机解析度升级、新增摺叠功能和多镜头设计等也是原因。随着记忆体IC平均售价持续缩水,半导体制造厂不可免的需要另辟蹊径,缩减测试成本、扩大产量。

爱德万测试最新H5620/H5620ES记忆体测试机
爱德万测试最新H5620/H5620ES记忆体测试机

爱德万测试 (Advantest Corporation)针对记忆体的测试需求,发表最新多功能、高产能H5620记忆体测试机,能针对DRAM和LPDDR (低功耗双存取同步动态随机存取记忆体) 装置进行预烧及记忆体单元测试。H5620在生产环境中,能以100MHz频率和高达200Mbps的资料传输率,平行测试超过1.8万个元件。此外,H5620能因应工厂自动化需求,还有具备个别热控制稳定度的双温箱结构,支援从-10。C到150。C大温度范围测试。不仅如此,新系统结合原有记忆体单元测试与记忆体生产设备的预烧测试流程,不仅有助客户降低资本支出,也能节省工厂空间。

H5620使用具备多元工具组合的FutureSuite作业系统。有了这套软体,测试机很容易能与爱德万测试原本的记忆体测试系统相容。另外,爱德万测试全球支援网也能立即提供客户在程式编码、除错、关联性分析和维修等方面的协助。

在此同时,爱德万测试也推出最新的多功能H5620ES工程测试系统,针对现今实验室环境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR装置进行高速预烧及测试,为H5600记忆体测试机家族再添生力军。由於精简配件数量、缩短预烧及测试之间所需的时间,最新H5620ES大幅降低5G应用先进记忆体装置的测量成本。新款测试机跟H5620 一样具备生产力,能针对DDR4和DDR5进行平行测试,并容纳频率100MHz、资料传输率200Mbps的记忆体IC。这套工程系统已针对产品开发工作进行使用优化,其精巧的设计能节省空间让实验室环境更机动,再加上顶部开放的机体设计很容易执行取放作业,不用先移开装置界面板 (DIB)。

H5620ES跟H5620生产单元都采用FutureSuite作业系统,因此测试波形相同。它也支援预先测试 (pre-testing routines),譬如在转移到H5620测试机以前,先在H5620ES系统进行检查 ,藉以缩短生产周期时间。

關鍵字: 5G NR  爱德万测试 
相关新闻
是德助全球认证论坛启动5G NR FR2装置认证
R&S通过AGPS和5G NR FR2毫米波性能测试 推动5G LBS发展
是德提交3GPP协定测试案例 验证支援IP多媒体子系统的5G NR装置
安立知与仁宝电脑合作验证5G NR Sub-6 GHz与毫米波性能测试
爱德万测试VOICE 2020公布演讲卡司 即日起开放报名
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关产品
» 爱德万测试最新双波长雷射技术 3D影像一眼区别皮肤黑色素与血管网
» 爱德万测试推出高产能记忆体测试机 整合预烧及记忆体测试於单一系统
» Hyperstone推出低功耗SSD控制器 X1支持可靠的3D闪存
» 是德科技全新 PathWave方案加速产品开发工作流程案
» Infortrend EonServ 7000系列机种:Milestone 认表现最隹的伺服器
  相关文章
» 5G元件特性分析与测试的五大最隹策略
» 从设计到制造 模组化仪器高弹性优势完全发挥
» 半导体测试迈向智慧化解决方案新时代
» 逻辑分析仪与时俱进 快速找出数位问题
» 5G非规则阵列天线模拟的全新突破

AD


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2020 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw