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物联网测试需求增 爱德万以高整合解决方案备战
 

Rapport \u3011    2017年09月06日 星期三

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随着物联网趋势的崛起,半导体自动测试设备供应商爱德万测试(Advantest) 近几年针对物联网领域中多变复杂的技术特性,持续推出整合性更高的量测解决方案,满足低阶至高阶、晶片至系统层级,以及研发端至产线的各种量测需求。

爱德万测试总经理吴厌桓(中)与技术行销团队。
爱德万测试总经理吴厌桓(中)与技术行销团队。

除了完善的V93000平台及相关衍生模组产品 (Wave Scale RF卡及相对应的Wave Scale MX卡) 外,T2000系统及EVA100测量平台也已进行功能扩充,以满足物联网测试需求。其中,针对现阶段物联网晶片多整合有微控制与应用处理器;以执行通讯、电源管理和感测等许多功能,爱德万测试推出T2000 AiR系统,为高整合度晶片提供高效率类比/混合讯号IC量测。

目前爱德万测试的V93000测试系统已创下5,000套出货量的好成绩,树立新的里程碑。具指标意义的第5,000套系统是获得系统级半导体解决方案供应商IDT的采用。而最新安装的系统配备新款DC Scale AVI64通用类比接脚卡、Pin Scale 1600数位卡与DC Scale DPS128卡,可满足IDT在新产品市场的需求。

爱德万测试的多功能V93000测试机系列最新加入的AVI64模组具备弹性隹、可扩充的特性,有助於提升设备利用率,强化制造生产的弹性,并将测试成本降到最低。传统ATE解决方案采用通道数相当少的各种通道卡,因此限制了执行多元件同测的能力。而AVI64在单卡上整合64个具备多重功能的独立通道,包括精密直流电源供应器与测量、脉冲式电源系统、任意波形产生器与数位转化器、高电压数位I/O与时间测量能力。AVI64能执行的平行测试数量是传统方案的两倍,并且因为大幅减少使用继电器的需求,故能同时有效简化测试载板设计。如此一来,测试时间缩短了,测试成本与现行方案相比亦大减50%。

此外,MPT3000系列也推出了最新解决方案,以拓展SSD测试范围。爱德万测试MPT3000系统已有数百组在世界各地的厂房里运作,现在,此产品线进一步扩大测试范围,包括工程、小规模生产和内建自我测试电路 (BIST) 应用,全都采用相同的MPT3000架构与软体。MPT3000模组、Tester-per-DUT (Device Under Test) 架构及独特的硬体加速技术,现在已能支援所有SSD协定和规格。

至於Wave Scale MX产品系列,也增添了生力军,推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡,扩大该系列於测试类比数位与数位类比波形转换器的范畴。全新高解析度Wave Scale MX卡具备平行测试能力以及交流与直流效能。藉由这些特性,爱德万测试V93000测试平台在测试类比数位波形转换器时,得以满足严格的低失真,精确度和线性度需求,同时也有助缩减消费性音频与物联网装置的测试成本及上市时间。

關鍵字: IOT  物联网  爱德万测试  Advantest 
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