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積體電路製程監控、良率與故障分析技術培訓班
 


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開始時間﹕ 四月十五日(三) 09:30 結束時間﹕ 四月十六日(四) 16:40
主辦單位﹕ 社團法人台灣電子設備協會
活動地點﹕ 台北市*實際地點依上課通知為準*
聯 絡 人 ﹕ 楊小姐 聯絡電話﹕ 02-27293933 ext.17
報名網頁﹕ https://www.teeia.org.tw/zh-tw/Course/detail/68?utm_source=newsletter_112&utm_medium=email&utm_campa
相關網址﹕

【金屬產業智機化提升計畫】

半導體產業中製造到成品必須經歷很多材料的製程工序,每一個工序都可能會造成良率或可靠度不穩定。本課程著重積體電路製造產線過程中的監控量測與良率關係,確保積體電路製造中每一個製程都能符合預期成效,講解如何設計監控的查核點(WAT)將是本課程的重點以及調整查核點(WAT)的嚴謹程度,解說與推論積體電路故障的成因以及用什麼方法找出問題,藉此來修正製程流程。

另外,產品等級的測試(CP)方法與製程關係也會進行解說,也會描述半導體元件或電路中與可靠度相關的知識與名詞,讓剛踏入這個領域的人員可以快速吸收從製程開始到產品完成過程中良率、故障與可靠度分析的所有專業知識。

最後,說明目前業界經常使用的故障分析工具來強化工作上的實戰經驗,讓分析理論與工作實務得到驗證。

【報名日期】即日起至109年4月14日

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