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【日本專家】藉由AI深度學習提升自動光學檢查設備辨識能力
 


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開始時間﹕ 四月十日(五) 09:30 結束時間﹕ 四月十日(五) 16:30
主辦單位﹕ 社團法人台灣電子設備協會
活動地點﹕ 台北市*實際地點依上課通知為準
聯 絡 人 ﹕ 楊小姐 聯絡電話﹕ 02-27293933 ext.17
報名網頁﹕ https://www.teeia.org.tw/zh-tw/Course/1090410/62?utm_source=newsletter_106&utm_medium=email&utm_camp
相關網址﹕

隨著全世界發展,當前產業被迫面臨的棘手課題是,產品已從過去同規格的大量生產,轉向「少量多樣」與「多量多樣」特色模式。唯有透過智能化辨識技術,結合全方位系統觀的自動化與智慧製造規劃,才能設計改善產線製程、品質、監控與回溯問題。但在部分在極高良率的要求下,AOI設備容易因敏感而出現過篩現象,因此產業在需要更智慧化的檢測系統條件下,開始應用AI技術來輔助AOI設備進行後續篩檢的優化,透過視覺辨識技術輔助AOI檢測的後續優化,以提高檢測設備的辨識正確率。

【報名日期】即日起至2020年4月8日止

【報名費用】原價4,500元/人(費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費)

【課程優惠】

1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元

2.TEEIA會員享每人NT$3,000元。

3.2020年4月1日前報名且完成繳費者,享早鳥優惠價$3,800元。

※請於開課前完成繳費,課程現場繳費 ,恕不享以上優惠資格。

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